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동경 계측검사장비 박람회영문 ELECTROTEST JAPAN 2014

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  전시기간 2014년 01월 15일(수) ~ 2014년 01월 17일(금)
  국가/도시 일본/도쿄
  전시회장 Tokyo Big Sight
  개최규모
  박람회홈페이지 http://www.electrotest.jp/en/
  출품업체바로가기
  박람회장도면

  

전시회전문가이트, 엄선된 전시장인근호텔, No옵션 NO팁, 소그룹단독행사OK, 개별여정 현지합류OK

<담당자안내>
1팀: 송화숙 / 김우연 / 전민지 / 김혜나
TEL:02.6000.1096 ~ 9 / FAX:02.6000.1037
EMAIL:
expoguideinter@gmail.com


박람회 안내

개최품목

보드 비전 검사 장비
솔더 비전 검사 장비
적외선 테스트 장비
X-레이 검사 장비
볼 머신 비전 검사 장비
TAB 비전 검사 장비
비전 검사 장비 범프
IC / PCB / 구성 요소 비전 검사 장비
프레임 비전 검사 장비를 이끌
BGA / CSP 재 작업 시스템 / 장비
경계 스캔 테스터
기능 솔더 테스터
BGA, CSP 용 소켓 테스트
IC / LSI 테스터
베어 보드 테스터
검사 지그 / 시험 일정 / 프로브 / 테스트 단계
고온 장비
2 D / 3 D 검사 장비
필름 두께 측정 장비
환경 테스트 장비
신뢰성 / 평가 검사 장비
분석 장비 / 소프트웨어
다양한 측정 / 검사 / 분석 장치
기타 각종 테스터, 검사, 측정 장비 및 기기
계약 분석 서비스
CCD 카메라 / 테스트를위한 다른 카메라
렌즈


** 명시된 출품품목과 실제 출품품목은 상이 할 수 있습니다 **

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참관안 출발/도착/기간 항공 경비 일정 출발여부 온라인예약
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포함내역

패키지기준 : 왕복항공료, 공항이용료등 TAX, 일급호텔( 2인1실 기준), 해외여행자보험료(1억원), 일정상의 식비& 전용차량비, 가이드 비용, 인솔자경비 등

불포함내역

여권발급비, 전시장내 중식, 독실 추가비용, 기타개인경비

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